Seminarium metrologiczne podczas targów Control-Stom
Opublikowane przez : Adam Żeberkiewicz
Zapraszamy na bezpłatne seminarium metrologiczne „Metrologia na rzecz obronności”, organizowane przez Polską Unię Metrologiczną.
W najbliższą środę, 26.03.2025 r., w godz. 10:00-15:00, podczas targów Control-Stom w Kielcach, odbędzie się bezpłatne seminarium metrologiczne pn. „Metrologia na rzecz obronności”
Seminarium obejmować będzie sesje merytoryczne z obszarów militarnych, lotnictwa, technik radarowych, cyberbezpieczeństwa, jak również szeroko pojętego MetroAerospace oraz sesję dla młodych naukowców poświęconą wynalazczości. Pełen program dostępny jest pod tekstem.
Seminarium jest organizowane w ramach zadania celowego Ministerstwa Nauki i Szkolnictwa Wyższego, w ścisłej współpracy z Głównym Urzędem Miar.