Główny Urząd Miar MKM po raz 50+1 - Aktualności -

Coroczna konferencja była okazją nie tylko do spotkania różnych środowisk naukowych, zajmujących się metrologią w Polsce oraz przedstawicieli metrologii prawnej, wojskowej i przemysłu. Oprócz uczestnictwa w sesjach tematycznych silna delegacja Głównego Urzędu Miar miała możliwość zwiedzić Politechnikę Opolską, w tym unikatową wystawę lamp Rentgenowskich.

Poza zaprezentowaniem dorobku naukowo-badawczego przez przedstawicieli poszczególnych laboratoriów GUM, Pani Ewa Dyner-Jelonkiewicz zaprezentowała ofertę GUM dla nauki, obejmującą:

• wspólne prace badawczo-rozwojowe,
• organizację wydarzeń metrologicznych,
• realizację prac inżynierskich, licencjackich, magisterskich oraz doktoratów wdrożeniowych,
• prezentowanie wspólnych wyników badań w czasopismach naukowych oraz konferencjach,
• wymiana doświadczeń na poziomach naukowym i metrologii przemysłowej.

Współpraca pomiędzy przemysłem, nauką i metrologią stanowi podstawę rozwoju gospodarczego każdego państwa. Główny Urząd Miar, zdając sobie sprawę z istoty takiej kooperacji, podejmuje działania przyczyniające się do ciągłej poprawy jakości oraz zakresu oferowanych usług.

Współpraca ze środowiskiem naukowym pomaga w zapewnieniu, odpowiedniego do potrzeb gospodarki, poziomu usług oferowanych przez GUM. Aby wzmacniać tę współpracę opracowano tzw. „Ofertę GUM dla Nauki” – propozycję zagadnień badawczych, w ramach których mogą być realizowane prace dyplomowe, wykorzystywane później w metrologii. Ponadto GUM oferuje infrastrukturę laboratoryjną, możliwość zdobycia doświadczenia zawodowego (poprzez np. realizację obowiązkowych praktyk przeddyplomowych) oraz wymianę doświadczeń.

Proponowane zagadnienia badawcze zostały podzielone na obszary tematyczne związane z głównymi kierunkami rozwoju gospodarki:

1. Zaawansowane techniki pomiarowe
2. Zdrowie i bezpieczeństwo żywności
3. Energia i ochrona środowiska
4. Technologie cyfrowe.

Międzyuczelniana Konferencja Metrologów organizowana jest przez środowisko naukowe polskich uczelni i ma wieloletnią tradycję. Pierwsza Konferencja, pod nazwą Narada Katedr Miernictwa Elektrycznego i Elektronicznego odbyła się w 1966 roku w Szczecinie i dotyczyła problematyki nauczania miernictwa. W jej trakcie narodził się pomysł corocznych spotkań metrologów poświęconych przede wszystkim prezentacjom prac młodych naukowców, a także służących dyskusjom na tematy dydaktyczne. Przez ponad 50 lat w corocznych konferencjach organizowanych przez ośrodki naukowe w całej Polsce wzięły udział tysiące osób zajmujących się metrologią. Tegoroczna konferencja była zarówno okazją do spotkania pracowników wszystkich środowisk naukowych zajmujących się metrologią w Polsce, jak i przemysłu oraz instytucji zajmujących się pomiarami. Obecna edycja miała na celu zrzeszenie wszystkich środowisk metrologicznych, stąd zaplanowano następujące sesje tematyczne:

1. Nauczanie metrologii;
2. Metrologia wielkości nieelektrycznych;
3. Pomiary technikami komputerowymi i elektrycznymi;
4. Pomiary przemysłowe.

Tematyka konferencji obejmuje m.in. następujące zagadnienia:

• rys historyczny, teraźniejszość i perspektywy rozwoju metrologii,
• zadania metrologii w innowacyjnej gospodarce,
• wzorce, normy, certyfikaty, akredytacje,
• pomiary wielkości fizycznych i chemicznych,
• pomiary w biologii i medycynie,
• systemy pomiarowe i diagnostyczne,
• przetwarzanie sygnałów pomiarowych,
• analiza wyników pomiaru i ocena niepewności,
• modelowanie systemów pomiarowych,
• dydaktyka metrologii.

Źródło: https://mkm2019.po.opole.pl/subpages/program.html